Microtomographie à rayons X de laboratoire avancée – ALXM

Les différents modes de microtomographie synchrotron (en particulier en phase ou en diffraction) ont permis la caractérisation microstructurale des matériaux hétérogènes ou architecturés, cristallins ou non à l’échelle du micron depuis les années 1995. Les tomographes de laboratoires, plus faciles d’accès, sont apparus dans les années 2000 mais n’offrent pas toutes les potentialités d’imagerie du rayonnement synchrotron et restent souvent cantonnés à de l’imagerie en mode absorption. Le présent projet vise à étendre les capacités d’imagerie des tomographes de laboratoire en s’appuyant sur une nouvelle génération de détecteurs capables de sélectionner les différentes énergies des faisceaux polychromatiques des sources de laboratoire. Ces détecteurs, couplés à des interféromètres permettront d’accéder aux images en contraste de phase et en champ sombre (darkfield) afin d’augmenter la sensibilité de ces instruments. Ils pourront également être utilisés pour analyser les schémas de diffraction et obtenir les cartographies 3D d’orientation cristalline.