– FAME
Un nouveau type de composant à fonctionnement électromécanique (MEMS) est apparu il y a une quinzaine d'années pour introduire des potentialités de reconfiguration dans les architectures de communication RF et micro-ondes. Ces composants ont immédiatement présenté des potentialités énormes mais présentent malheureusement des mécanismes de défaillances à la fois structurels et fonctionnels non ou mal compris qui limitent leur industrialisation. Le projet va s'attacher à mettre en place une plateforme standardisée d'étude de ces mécanismes de défaillances permettant à la fois une meilleure connaissance des mécanismes physiques mais également la possibilité d'évaluer très rapidement des composants vis à vis de leurs performances en terme de fiabilité. Le projet est organisé en 7 sous projets qui impliquent la conception de véhicules de test, leur fabrication en utilisant divers procédés technologiques et leur caractérisation en vue d'étudier et de modéliser les mécanismes de défaillances (influence de la rugosité, gradient de contraintes, dégradation des contacts, chargement de diélectrique et électromigration). les résultats obtenus seront utilisés pour la conception d'un démonstrateur à haute fiabilité. - - ?
Coordination du projet
Fabio COCCETTI (Organisme de recherche)
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Partenaire
Aide de l'ANR 732 101 euros
Début et durée du projet scientifique :
- 36 Mois