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Centre expérimental pour l'étude des propriétés des nanodispositifs dans un large spectre du DC au moyen Infra-rouge. (Excelsior)


Action : Equipements d'excellence


N° de convention : 11-EQPX-0015

Informations générales

  • Référence projet : 11-EQPX-0015
  • RST : Gilles DAMBRINE
  • Etablissement Coordinateur : CNRS Nord Pas-de-Calais Picardie (Lille)
  • Région du projet : Hauts de France
  • Discipline : 2 - SMI
  • Aide allouée : 3 252 710 €
  • Date de début du projet : 01/05/2012
  • Date de fin du projet : 31/12/2019
  • Site web du projet : www.excelsior-ncc.eu
  • Mots clés : nano-caractérisation, microscopie à sonde locale, spectroscopie à sonde locale, microonde

Résumé du projet

Le projet ExCELSiOR vise à adresser les défis instrumentaux et des méthodes de caractérisation alliant des techniques de microscopie en champ proche et de spectroscopie résolues spatialement et couvrant une large gamme de fréquences. Le projet ExCELSiOR est construit autour de trois équipements uniques par leurs principes et leurs performances. Il s’agit: d’un système de mesures hautes fréquences sous pointes et de microscopie AFM hautement résolue spatialement, le tout intégré dans un microscope à balayage électronique (Élément #1), d’un banc optique associé à un STM 4 pointes fonctionnement en ultra-vide et d’un AFM ultra-basse température (Élément#2), d’un S-SNOM opérant en moyen infrarouge et au THz (Élément#3), d’un système de contrôle de l’environnement de ces trois instruments dans le cadre d’un nouvel espace sur trois niveaux dédiés à la nano-caractérisation (Élément #4). Les instruments du projet ExCELSiOR sont actuellement intégrés aux deux plateformes 'Microwave Characterization Center (MWC)' & 'Scanning Probe Microscopy (SPM) Platform' toutes deux installées dans de nouveaux espaces (1100m2) à environnement contrôlé en température, hygrométrie et vibration (ISO8). Pour la tranche 1 (1/05/2012 – 30/04/2016) : 100% des équipement sont opérationnels et ouverts aux utilisateurs. L'ensemble des équipements sont installés dans les nouveaux espaces dédiés aux 2 plateformes: -de 'caractérisation HF & MEMS' et -de 'champ proche' de l'IEMN UMR8520. Pour la tranche 2 : (2013-2019) l’essentiel des dépenses concerne la maintenance des équipements et le fonctionnement du projet.

(L'auteur de ce résumé est le coordinateur du projet, qui est responsable du contenu de ce résumé. L'ANR décline par conséquent toute responsabilité quant à son contenu.)